u 創(chuàng)新的SIDSP（探頭內(nèi)部數(shù)字信號(hào)處理）技術(shù)提升了測(cè)量的精確性
u 測(cè)量范圍達(dá)15mm，可更換F、N或FN探頭，供內(nèi)置或外接探頭使用
u FN探頭自動(dòng)識(shí)別F（鐵磁性）或N（非磁性）基體，操作方便不易出錯(cuò)
MINITEST 700優(yōu)點(diǎn)一覽：
Ø SIDSP使測(cè)量不受干擾，測(cè)值更加精確
Ø 可更換探頭使用更加靈活（MINITEST 740探頭可由內(nèi)置換為外置）
Ø FN探頭自動(dòng)識(shí)別基體，使測(cè)量更迅速，避免操作錯(cuò)誤
Ø 溫度補(bǔ)償功能避免溫度變化引起的錯(cuò)誤
Ø 生產(chǎn)過(guò)程中50點(diǎn)校準(zhǔn)使儀器獲得高精確度的特征曲線
Ø 大存儲(chǔ)量，能存儲(chǔ)10或100組多達(dá)100,000個(gè)讀數(shù)
Ø 讀數(shù)和統(tǒng)計(jì)值能單獨(dú)調(diào)出
Ø 超大，背光顯示屏，顯示內(nèi)容可180度旋轉(zhuǎn)
Ø 菜單指引操作，25種語(yǔ)言可選
Ø 帶IrDA接口，紅外線傳輸數(shù)據(jù)到打印機(jī)和PC
可下載更新軟件
標(biāo)準(zhǔn)配置：
Ø 帶塑料手提箱
Ø MINITEST 720(內(nèi)置探頭)
Ø 或MINITEST 730（外置探頭）
Ø 或MINITEST740主機(jī)（不含探頭，有各種探頭可選）
Ø 校準(zhǔn)套裝含校準(zhǔn)片和零板
Ø 操作使用說(shuō)明CD，德語(yǔ)、英語(yǔ)、法語(yǔ)、西班牙語(yǔ)
Ø 2節(jié)AA電池
推薦配件:
F1.5/N0.7/FN1.5探頭用測(cè)量支架
主 機(jī)
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型號(hào)
特性
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MINITEST 720
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MINITEST 730
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MINITEST 740
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探頭類型
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內(nèi)置探頭
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外置探頭
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內(nèi)置外置可換
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數(shù)據(jù)記憶組數(shù)
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10
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10
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100
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存儲(chǔ)數(shù)據(jù)量
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多10,000個(gè)
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多10,000個(gè)
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多100,000個(gè)
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統(tǒng)計(jì)值
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讀值個(gè)數(shù)，小值，大值，平均值，標(biāo)準(zhǔn)方差，變異系數(shù)，組統(tǒng)計(jì)值（標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置/自由配置）
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符合標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范
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ISO，SSPC，瑞典標(biāo)準(zhǔn)，澳大利亞標(biāo)準(zhǔn)
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校準(zhǔn)模式
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出廠設(shè)置校準(zhǔn)，零點(diǎn)校準(zhǔn)，2點(diǎn)校準(zhǔn)，3點(diǎn)校準(zhǔn)，
使用者可調(diào)節(jié)補(bǔ)償值
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極限值監(jiān)控
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聲、光報(bào)警提示超過(guò)極限
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測(cè)量單位
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um，mm，cm；mils，inch，thou
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操作溫度
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-10℃-60℃
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存放溫度
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-20℃-70℃
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數(shù)據(jù)接口
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IrDA 1.0（紅外接口）
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電源
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2節(jié)AA電池
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標(biāo)準(zhǔn)
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DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840
ASTM B244，B499，D7091，E376 AS 3894.3，SS 1841 60，SSPC-PA 2
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體積
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157mm x 75.5mm x 49mm
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重量
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約175g
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約210g
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約175g（內(nèi)置）230g（外置）
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SIDSP探頭
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探頭
特性
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F1.5，N0.7，FN1.5
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F2
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F5，N2.5，FN5
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F15
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F
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N
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F
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F
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N
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F
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測(cè)量范圍
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0-1.5mm
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0-0.7mm
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0-2mm
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0-5mm
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0-2.5mm
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0-15mm
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使用范圍
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小工件，薄涂層，跟測(cè)量支架一起使用
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粗糙表面
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標(biāo)準(zhǔn)探頭，使用廣泛
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厚涂層
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測(cè)量原理
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磁感應(yīng)
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電渦流
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磁感應(yīng)
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磁感應(yīng)
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電渦流
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磁感應(yīng)
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信號(hào)處理
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探頭內(nèi)部32位信號(hào)處理（SIDSP）
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精確度
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±（1μm+0.75%讀值）
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±（1.5μm+0.75%讀值）
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±（5μm+0.75%讀值）
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重復(fù)性
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±（0.5μm+0.5%讀值）
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±（0.8μm+0.5%讀值）
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±（2.5μm+0.5%讀值）
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低端分辨率
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0.05μm
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0.1μm
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1μm
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小曲率半徑（凸）
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1.0mm
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1.5mm
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5mm
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小曲率半徑（凹，外置探頭）
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7.5mm
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10mm
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25mm
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小曲率半徑（凹，內(nèi)置探頭）
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30mm
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30mm
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30mm
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小測(cè)量面積
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Φ5mm
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Φ10mm
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Φ25mm
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小基體厚度
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0.3mm
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40μm
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0.5mm
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0.5mm
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40μm
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1mm
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測(cè)量速度
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連續(xù)模式每秒20個(gè)讀數(shù),單值模式下每分鐘70個(gè)讀數(shù)
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