| 涂層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100 | 是否提供加工定制： | 否 | 品牌： | epk | | 型號： | MiniTest1100 | 測量范圍： | 0-50mm | | 測定對象： | 金屬上的涂鍍覆蓋層 | 測量精度： | 1-3% | | 分辨率： | 0.1 | 電源： | 3v | | 尺寸： | 48x20X150（mm） | 重量： | 0.3（kg） |
德國EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂鍍層測厚儀特點：
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機，各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能；
所有型號均可配所有探頭；
可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機；
可使用一片或二片標準箔校準。
功能
| 型號 | 1100 | 2100 | 3100 | 4100 | | MINITEST 存儲的數(shù)據(jù)量 | | 應用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎數(shù)據(jù)數(shù)) | 1 | 1 | 10 | 99 | | 每個應用行下的組(BATCH)數(shù)(對組內數(shù)據(jù)自動統(tǒng)計，可設寬容度極限值) | - | 1 | 10 | 99 | | 可用各自的日期和時間標識特性的組數(shù) | - | 1 | 500 | 500 | | 數(shù)據(jù)總量 | 1 | 10000 | 10000 | 10000 | | MINITEST統(tǒng)計計算功能 | | 讀數(shù)的六種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar | - | √ | √ | √ | | 讀數(shù)的八種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk | - | - | √ | √ | | 組統(tǒng)計值六種x,s,n,max,min,kvar | - | - | √ | √ | | 組統(tǒng)計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk | - | - | √ | √ | | 存儲顯示每一個應用行下的所有組內數(shù)據(jù) | - | - | - | √ | | 分組打印以上顯示和存儲的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計值 | - | - | √ | √ | | 顯示并打印測量值、打印的日期和時間 | - | √ | √ | √ | | 其他功能 | | 透過涂層進行校準(CTC) | - | √ | | | | 在粗糙表面上作平均零校準 | √ | √ | √ | √ | | 利用計算機進行基礎校準 | √ | √ | √ | √ | | 補償一個常數(shù)(Offset) | - | - | √ | √ | | 外設的讀值傳輸存儲功能 | - | √ | √ | √ | | 保護并鎖定校準設置 | √ | √ | √ | √ | | 更換電池是存儲數(shù)值 | √ | √ | √ | √ | | 設置極限值 | - | - | | | | 公英制轉換 | √ | √ | √ | √ | | 連續(xù)測量模式快速測量，通過模擬柱識別大小值 | - | - | | | | 連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀數(shù) | - | - | | | | 浮點和定點方式數(shù)據(jù)傳送 | √ | √ | √ | √ | | 組內單值延遲顯示 | - | √ | √ | √ | | 連續(xù)測量模式中顯示小值 | √ | √ | | |
所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇適用的探頭時需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭：測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭：測量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭：同時具備F型和N性探頭的功能
探頭 | 量程 | 低端
分辨率 | 誤差 | 小曲率
半徑(凸/凹) | 小測量
區(qū)域直徑 | 小基
體厚度 | 探頭尺寸 | 磁
感
應
法 | F05 | 0-500μm | 0.1μm | ±(1%±0.7μm) | 1/5mm | 3mm | 0.2mm | φ15x62mm | F1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | 0.5mm | φ15x62mm | F1.6/90 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 平面/6mm | 5mm | 0.5mm | φ8x170mm | F3 | 0-3000μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | 0.5mm | φ15x62mm | F10 | 0-10mm | 5μm | ±(1%±10μm) | 5/16mm | 20mm | 1mm | φ25x46mm | F20 | 0-20mm | 10μm | ±(1%±10μm) | 10/30mm | 40mm | 2mm | φ40x66mm | F50 | 0-50mm | 10μm | ±(3%±50μm) | 50/200mm | 300mm | 2mm | φ45x70mm | 兩
用
| FN1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | F0.5mm
N50μm | φ15x62mm | FN1.6P | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 平面 | 30mm | F0.5mm
N50μm | φ21x89mm | FN2 | 0-2000μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | F0.5mm
N50μm | φ15x62mm | 電
渦
流
法 | N02 | 0-200μm | 0.1μm | ±(1%±0.5μm) | 1/10mm | 2mm | 50μm | φ16x70mm | N.08Cr | 0-80μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 2.5mm | 2mm | 100μm | φ15x62mm | N1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 2mm | 50μm | φ15x62mm | N1.6/90 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 平面/10mm | 5mm | 50μm | φ13x170mm | N10 | 0-10mm | 10μm | ±(1%±25μm) | 25/100mm | 50mm | 50μm | φ60x50mm | N20 | 0-20mm | 10μm | ±(1%±50μm) | 25/100mm | 70mm | 50μm | φ65x75mm | N100 | 0-100mm | 100μm | ±(1%±0.3mm) | 100mm/平面 | 200mm | 50μm | φ126x155mm | CN02 | 10-200μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 平面 | 7mm | 無限制 | φ17x80mm |
BK8115 BK8113 BK8113A Quintsonic2 EPKP35 EPKP7 EPKP30 EPK PoroTest7 EPK PhysiTest15203 EPK PhysiTest15201 EPK PhysiTest15202 EPKminitest400B EPKMiniTest400EP4 EPKMiniTest400EP6 EPKMiniTest400EP8E EPKMiniTest400EHP13 EPKMiniTest400ECP12 EPKMiniTest400EP8 EPK StratoTest 4100 80C EPK STRATOTEST 4100 EPK STRATOTEST 4100C EPKMINITEST 400 MINITEST 600B-FN EPK MINITEST 600B-NEPK EPK QuintSonic EPK QuintSonic EPK MiniPrint4100-2 EPK MINITEST700USB EPK MINITEST700 MINITEST 600B-FEPK EPKMIKROTESTNi100 EPKPenTest EPKWetTest EPKMIKROTESTNi50 MIKROTEST S3雙旭上海雙旭電子有限公司聯(lián)系電話：021-63515607 63515605 63515606 63504668 63510721 63510720 網(wǎng)站： www.63504668.com |
